среда, 27 мая 2015 г.

Основы измерений параметров материалов

В эти теплые летние весенние дни проходят семинары Agilent, извините, Keysight, посвященные тестированию параметров материалов и полупроводниковых приборов. Но мне показалось странным, что на диске с информационными материалами нет ничего об измерении параметров материалов (или я просто не заметил). Поэтому решил поделиться материалом, который я нашел в своем архиве "Основы измерения диэлектрических свойств материалов. Заметки по применению". Надеюсь, кому-нибудь пригодится.

Комментариев нет:

Отправить комментарий