На семинаре, прошедшем 25 февраля 2014 года, удалось пообщаться с техническим специалистом AWR Dr. Jaakko.
И подсказал он очень интересную мысль по поводу описания частотной дисперсии в AWR DE (AXIEM, Analyst).
Например, для частотной дисперсии, заданной линейной зависимостью, можно поступить следующим образом
Что тут есть что:
_FREQ - системная переменная, имеющая размерность частоты, указанной в проекте;
в данном случае частота в GHz, поэтому для зависимости, описываемой следующим выражением
, где
начальное значение диэлектрической постоянной epsilon start=4,35 (на частоте 100 Мгц);
при увеличении частоты на каждый гигагерц диэлектрическая постоянная увеличивается на 0,01 поэтому системная переменная _FREQ делится на 1e9 и потом домнажается на масшатбный коэффициент 0,01 (в диалоге осуществляется деление на 1е11).
В принципе, можно пойти дальше и описать частотную дисперсию более сложным выражением (если необходимо) и прописать эту зависимость в Global Definitions. Можно задать допуск на масштабный коэффициент, чтобы учесть технологический разброс на материал и провести Yield анализ.
