Показаны сообщения с ярлыком презентация. Показать все сообщения
Показаны сообщения с ярлыком презентация. Показать все сообщения

четверг, 28 февраля 2019 г.

CST STUDIO SUITE 2019 - Новые функции и обновления (видео от Евроинтех)

Наверное, это последнее видео, посвященное новинкам CST Studio Suite, т.к. в дальнейшем это уже будет продукт под вывеской Dassault Systemes.
Хочу сказать спасибо специалистам компании Евроинтех за информационную поддержку продуктов CST и регулярную подготовку интересных материалов на русском языке.
Собственно, само видео (к сожалению, небольшое, около 10 минут)

Приятного просмотра. Надеюсь, будет интересно.

четверг, 3 мая 2018 г.

Российское представительство компании Rohde & Schwarz приглашает вас на презентацию 2-го издания книги по «Основам векторного анализа цепей» Михаэля Хибеля

Собственно, все в названии :)
Более подробно о презентации расскажет Евгений Сучков:



Вообще, интересная получается ситуация, т.к. на MetrolExpo 2018 свою книгу будет представлять и Keysight.
Хочу еще добавить, что российское представительство R&S предлагает книгу не только в печатном виде, но и регулярно выкладывает главы книги в электронном виде, за что хочется им сказать огромное спасибо! (На данный момент времени доступны 2-я и 3-я главы обновленной книги).

четверг, 22 марта 2018 г.

"Руководство по измерению параметров СВЧ-элементов c применением новейших методов векторного анализа цепей" - презентация книги.

Набрел на интересную новость: "15 мая 2018 года в первый день работы Всероссийского съезда метрологов и приборостроителей (MetrolExpo 2018) на ВДНХ в павильоне №75 будет представлена книга Джоэля Дансмора на русском языке: «Измерения параметров СВЧ-устройств с использованием передовых методик векторного анализа цепей»" (источник).

По описанию (см. ниже) интересная книга:
"Эта книга представляет собой совокупность базовых и передовых понятий, теории и практики. К сожалению границы этих понятий, размыты и зависят в значительной степени от уровня образования и опыта читателя. Прежде всего, эта книга о методах выполнения измерений, но в то же время в ней содержится масса информации о характеристиках устройств. Эта информация будет полезна и для проектировщика и для инженера-испытателя, поскольку одной из целей тестирования является уточнение характеристик устройств, которые не соответствуют упрощенным моделям, обычно используемых для этих устройств. На практике – это непредвиденная реакция на тестовое воздействие, на определение причин, возникновения которой тратится наибольшее количество времени на этапе производства и разработки устройства, особенно это касается активных устройств, таких как усилители и смесители.
Основным инструментом для измерений характеристик СВЧ устройств является векторный анализатор цепей (ВАЦ), измерительные возможности которого существенно возросли с внедрением новейших достижений, что позволило решать намного более широкие задачи, чем просто измерение таких параметров как усиление и согласование. Как проектировщик ВАЦ с более чем тридцатилетним стажем, я принимал участие в обсуждениях по широчайшему перечню измерительных задач в СВЧ диапазоне, от компонентов сотового телефона до спутниковых мультиплексоров. Идея создания и задача этой книги в том, чтобы предоставить читателю совокупность этого опыта для повышения качества и эффективности работы инженеров, специализирующихся в области разработки и на производстве. Основное внимание уделяется современным методикам выполнения измерений; передовые методы изменились в результате расширения возможностей приборов, и зачастую различия между традиционными методиками и новыми достаточно велики, поэтому им необходимо уделить особое внимание.

Глава 1 задумана как введение в теорию электромагнитных волн и устройств СВЧ диапазона. В первой части главы вводятся основные понятия для описания характеристик устройств работающих в ВЧ и СВЧ диапазонах. Также здесь приводятся некоторые важные математические выкладки, которые необходимы для понимания результатов последующих глав. Вторая часть Главы 1 содержит описание некоторых стандартизированных СВЧ соединителей, линий передач и устройств, а так же обсуждается основное измерительное оборудование, используемое в диапазоне СВЧ. Эта глава особенно полезна для инженеров, не имеющих опыта измерений в ВЧ и СВЧ диапазоне.

Глава 2 посвящена детальному рассмотрению устройства типовых ВАЦ и их возможностей (ограничений). Такой уровень детализации обычно не требуется для обычных пользователей, инженеры-испытатели, выполняющие измерения с очень высокой точностью, сочтут полезным рассмотреть, какое влияние на результаты измерений оказывает конфигурация ВАЦ. Современный ВАЦ может решать широкий спектр измерительных задач, включая измерения нелинейных искажений, мощности и коэффициента шума, тем не менее, в основе по-прежнему лежит измерение S-параметров. Вторая часть Главы 2 иллюстрирует ряд полезных характеристик, полученных из S-параметров.
Возможно, наиболее сложным для понимания аспектом измерений с использованием ВАЦ является процесс калибровки и коррекции систематических ошибок. 

Глава 3 представляет собой обзор моделей ошибок ВАЦ, методик калибровки, а так же анализ погрешностей измерений и оценку остаточных результатов калибровки. В этой главе также вводится понятие калибровки источника и приемника сигнала по уровню мощности, о которых, за исключением этой книги, в настоящее время доступно очень мало систематизированной информации. В этой главе рассматривается ряд практических моментов, которые влияют на качество измерений после калибровки ВАЦ.

Глава 4 вероятно наиболее математически строгая и затрагивает очень полезную тему анализа параметров цепей во временной области, реализованных в ВАЦ. В частности освещена тема стробирования, его эффектов и методов компенсации. Эти первые четыре главы составляют вводный курс в измерения СВЧ компонентов.
Оставшиеся главы сосредоточат внимание читателя на описании частных случаев измерений параметров СВЧ элементов. 

Глава 5 посвящена пассивным СВЧ устройствам, таким как кабели и соединители, линии передачи, фильтры, вентили и направленные ответвители. Для каждого типа из этих устройств приведены лучшие методики тестирования и способы решения типовых проблем возникающих при этом.

В Главе 6 собраны сведения об измерительных задачах, связанных с усилителями, и все необходимое для их полного описания. Рассмотрены практические вопросы измерения больших значений коэффициента усиления и больших значений выходной мощности, включая импульсные ВЧ измерения. Вводится понятие измерения нелинейных параметров устройства на примере тестирования уровня гармоник и уровня двухтональной интермодуляции, а так же рассмотрены многие методики измерений нелинейных искажений и шумовых параметров, позволяющие для этого использовать равноправно как анализатор спектра, так и измерительный приемник современного ВАЦ.

Глава 7 продолжает рассмотрение измерений параметров активных устройств на примере смесителей. Поскольку у немногих инженеров есть опыт работы со смесителями, и он чаще всего ограничен поверхностным рассмотрением их особенностей на инженерных курсах, глава начинается с детального обсуждения моделей и особенностей конвертеров частоты и смесителей. Методики измерений параметров смесителей могут быть довольно сложными, особенно это касается фазового сдвига или параметров запаздывания сигнала. Приведены несколько ключевых методик выполнения измерений, а так же новый метод калибровки, с применением опорной фазы, подробно описанный впервые. Кроме амплитудно-частотной и фазо-частотной характеристик, рассмотрены методы измерения характеристик смесителя в зависимости от уровней мощностей ВЧ сигнала и сигнала гетеродина, а так же измерение нелинейных искажений и шумовых параметров. Эта глава рекомендуется к прочтению всем инженерам, имеющим дело со смесителями или преобразователями частоты.

Глава 8 дает понятие о дифференциальных и балансных устройствах и предоставляет детальное описание методик анализа и измерений параметров дифференциальных устройств, включая нелинейные характеристики, коэффициент шума и искажения.

Глава 9 содержит в себе описание ряда очень полезных для инженера методик и концепций, в особенности касательно вспомогательных измерительных оснасток, включая полное описание создания калибровочных комплектов для них."

Пока книга только готовиться к изданию и информации о цене нет.

Не знаю как вы, а я буду с большим интересом ждать выхода этой книги. Надеюсь, удастся приобрести :)

Кстати, если вам интересна эта тема, то обратите внимание на книгу "Основы векторного анализа цепей" (автор - Михаэль Хибель), которая вышла в 2009 году на русском языке и так же освещает ряд вопросов, связанных с ВАЦ. Издавалась эта книга российским представительством Rohde & Schwarz и все основы рассматриваются на примере измерительной аппаратуры этой фирмы. Сейчас эта книга готовится к переизданию, но в сети доступна электронная версия издания 2009 года. Качество оставляет желать лучшего, но для ознакомления вполне сойдет.

И раз уж сегодня мы говорим о книгах, освещающих столь интересную тему, не могу не упомянуть о книге, выпущенной НПФ "МИКРАН" - "Теоретический аппарат измерений на СВЧ", о которой я уже рассказывал в своем блоге.

На сегодня по этой теме пока все :)

Надеюсь, было интересно.


понедельник, 30 мая 2016 г.

CST STUDIO SUITE - моделирование и измерения

     Еще одно интересное видео от Евроинтех, посвященное на этот раз не просто моделированию в CST, а взаимосвязи между процессами моделирования и обмера разрабатываемого устройства. Тема, безусловно, интересная особенно если учесть, что в последних версиях CST появились инструменты, позволяющие, например, рассчитать частотную дисперсию диэлектрической постоянной материала диэлектрика подложки, основываясь на результатах измерений.
    Комментарий от авторов видео: "Современные инструменты электромагнитного моделирования позволяют выполнить детальный анализ разрабатываемого устройства, оптимизировать его характеристики и значительно сократить затраты и время на изготовление прототипа. Однако, такой путь разработки возможен лишь в том случае, когда в проектировщике заданы корректные данные, точно отображающие создаваемое устройство. Возможных источников несоответствия параметров модели и параметров измеряемого макета целый ряд: 

- различные геометрические размеры (вызванные технологией изготовления, например, подтравливанием)
- различные параметры используемых материалов (анизотропное поведение диэлектрика, шероховатость поверхности)
- влияние ЭМ окружения измеряемого объекта
- наличие устройств связи с макетом (коннекторов, адаптеров).

В этой видеопрезентации рассмотрены несколько примеров расхождения результатов моделирования с измерениями изготовленного устройства, выявлены причины различия и составлен список советов и рекомендаций для получения достоверных значений на этапе моделирования".
Ссылка на видео

Надеюсь, будет полезно.

пятница, 20 мая 2016 г.

CST STUDIO SUITE 2016 обзор новых функциональных возможностей (расширенный обзор)

Комментарий от авторов видео: "Весной 2016 года компания Computer Simulation Technology (CST) сообщила о выходе новой версии своего ведущего продукта в области 3D электромагнитного проектирования – CST STUDIO SUITE 2016. Изменения затронули все этапы численного решения задач электродинамики: начиная с внедрения новых инструментов проектирования, алгоритмов сеточного разбиения, заканчивая обработкой полученных результатов и дальнейшего их использования на следующих, более сложных уровнях проекта."

И само видео

Надеюсь, будет интересно.

пятница, 20 ноября 2015 г.

Семинар Keysight по ЭМС

На неделе прошел семинар Keysight, посвященный ЭМС. Из материалов, близких тематике блога, я бы отметил презентацию по ЭМС. Конечно, материал носит исключительно ознакомительный характер.

четверг, 12 ноября 2015 г.

Семинар по CST STUDIO SUITE 2015 от Евроинтех.

11 ноября 2015 года прошел семинар, посвященный новым возможностям CST STUDIO SUITE 2015.

Хочется выразить благодарность представителям Евроинтех за прошедшее мероприятие.

Так же на сайте компании есть раздел, содержащий дополнительные информационные материалы по ПО CST STUDIO SUITE.