Испытания усилителя мощности диапазона 24–28 ГГц с использованием стандарта испытаний 5G New Radio — проблемы и результаты

"Испытания усилителя мощности диапазона 24–28 ГГц с использованием стандарта испытаний 5G New Radio — проблемы и результаты" - вот такой материал появился на сайте R&S. Посмотрите, может, вам будет интересно.

Измерение параметров материалов. Снова...

  В последнее время часто сталкиваюсь с задачей оценки параметров материалов, применяемых в разных СВЧ устройствах. В ряде случаев возможность оценить параметры материала, из которого сделана, например, крышка, закрывающая антенную систему, или подложка печатной платы, становится камнем преткновения. Поэтому постоянно ищу информацию по методикам измерения, различным вариантам оснастки для измерений и всему подобному...

Нашел несколько интересных материалов, которыми и хочу поделиться (возможно, вам они тоже пригодятся). 

  1. Очень интересная статья, написанная простым и доступным языком "Волноводный метод измерений электромагнитных параметров материалов в СВЧ диапазоне и оценка погрешности измерений". В материале приводится ряд рабочих, несложных формул, а также даются результаты численного моделирования. На мой взгляд, очень полезный материал, т.к. отвечает на основные вопросы - "как" и "почему".

  2. Вторая статья мне намного ближе - "Измерение параметров диэлектрических  материалов печатных плат микрополосковой  СВЧ-техники" (Не смог найти источник, откуда я изначально скачал эту статью, поэтому выкладываю альтернативную ссылку. Если кто-то подскажет, где лежит оригинал, буду очень благодарен). В этой статье описывается и поясняется подход, использованный при оценке параметров материалов подложек планарных линий передачи (полосковой и микрополосковой), дается ряд интересных пояснений, краткий обзор методов, используемых производителями СВЧ материалов, приводятся полезные формулы.

  3. Третья ссылка как бы дополняет предыдущую статью ("Измерение параметров диэлектрических  материалов печатных плат микрополосковой  СВЧ-техники") - "Correlating microstripline model to measurement", поясняя метод, применяемый для оценки параметров материала подложки микрополосковых (т.е. несимметричных полосковых) линий передачи. Приводится краткое пояснение сути метода и сам вычислительный алгоритм (с кодом).

Надеюсь, материал будем вам интересен и полезен.

Семинар «Секреты векторного анализа цепей. Новейшие методики векторного анализа цепей и компонентов»

   На неделе в Москве прошел семинар, организованный российским представительством Keysight «Секреты векторного анализа цепей. Новейшие методики векторного анализа цепей и компонентов».  Вел семинар Джоэль Дансмор, инженер-разработчик, на протяжении 35 лет работающий в компании Keysight Technologies (ниже, на фото, Джоэль в центре, рядом специалист московского офиса Keysight Technologies Михаил Бежко).

   Keysight Technologies приурочила этот семинар к выходу русскоязычной версии книги Джоэля Дансмора "Настольная книга инженера. Измерения параметров СВЧ-устройств с использованием передовых методик векторного анализа цепей" (издательство "Техносфера", 2018 год).

   Насколько я могу судить, интерес к семинару был достаточно большой (свободных мест в зале было немного). Да и к книге проявили немалый интерес - привезенные экземпляры разошлись как горячие пирожки :)

   Очень интересно было послушать человека, являющегося одним из идеологов Keysight Technologies в области измерений с применением ВАЦ. В какой-то момент времени почувствовал себя студентом на лекции :). Конечно, уровень Джоэля владения темой поражает и восхищает. 

   Думаю, нет смысла выкладывать тут ссылки на презентацию Джоэля, т.к. есть его книга на русском языке. Возможно, несколько позже в сети появится видеозапись семинара. 

   Кстати, в сети можно найти электронную версию книги на английском языке (оригинальное название "Handbook of microwave component measurements with advanced VNA techniques", издательство Wiley). Мне удалось найти издание 2012 года.

   От себя хочу сказать большое спасибо представителям московского офиса Keysight Technologies за прошедшее мероприятие. Конечно, общение со специалистами такого уровня всегда очень интересно. Побольше бы таких мероприятий :)

P.S. Keysight и РИЦ «ТЕХНОСФЕРА» представили российское издание книги Д. Дансмора о векторном анализе цепей.

Пара новых статей от СЭ

Давненько я не писал в свой бложек. Как-то все не было повода. А тут их аж целых два, вернее, почти два с половиной :)

Все-таки иногда в журнале СЭ появляются статьи, посвященные тематике СВЧ:
1. "Экспериментальное исследование развязки между микрополосками" - по этой ссылке статью можно почитать на сайте СЭ (если вы зарегистрированы). Мне не очень нравится такой подход и поэтому я обычно ищу, где статью можно скачать. А скачать ее можно с сайта Резонита, например.
2. "САПР AWR: сравнение результатов моделирования с экспериментом. Алгоритмы обработки данных" - почитать на сайте СЭ. Так же можно почитать вот по этой ссылке без регистрации. Или же можно скачать вот отсюда.

Кстати, последняя ссылка ведет на страницу R&S на FB. В общем, вдруг вы не знали, но вам это может пригодиться :)

Пока все. Надеюсь, хоть что-то окажется полезным (ну или хотя бы интересным).

Более 260 технических ресурсов, посвящённых измерениям

На днях Keysight Technoligies прислал письмо со ссылкой на перечень материалов по измерениям. Конечно, бОльшая часть материалов на английском языке, но есть и переведенные на русский.

Возможно, кому-нибудь пригодится.

Подборка материалов от Юнитест

     Наткнулся на страничку с подборкой различных интересных материалов (есть материалы на русском) - статей, книг, руководств по применению. Большой раздел посвящен "Основам анализа спектра".

     Надеюсь, будет полезно.

Материалы по измерениям...

Наткнулся я во время своих блужданий по сети на FTP широко известной в узких кругах фирмы :) И на этом FTP меня заинтересовали следующие материалы:
1. Измерение коэффициента шума (уже не раз было, но всегда актуально)
2. Об искажениях в СВЧ осциллографах. Сравнение высокоскоростных осциллографов от Agilent и Tektronix. (интересно для общего развития)
3. Как упростить настройку фильтров за счет использования исследования во временной области. (тоже интересная тема).

Материалы со дня открытых дверей Keysight 15 и 16 сентября 2015 года

   Хочется выразить благодарность компании Keysight Technologies Russia за "День открытых дверей". Возможность поработать в лаборатории - это просто сказка :) Так же очень порадовала возможность пообщаться со специалистами из других фирм, обменяться мнениями, информацией, контактами и встретить старых знакомых. Надеюсь, никто на меня не обидится, если я дам ссылку на материалы мероприятия.

Еще немного о материалах, их свойствах, правильности измерений и корректности моделей...

Не смог пройти мимо топика "Дикие потери RO4003C (Ni-5мкм Au-0.1мкм) из-за чего?". Тема интересная, содержит ряд сообщений с ссылками на статьи. Правда, истина по-прежнему где-то рядом :)
И еще добавлю статью почти в тему "Что надо знать разработчику печатных плат: выбор базового материала"

Нелинейные искажения тракта

   Проектируя усилительный тракт, в очередной раз забыл, как осуществляется пересчет уровня входного сигнала в зависимости от IP3 и вообще интермодуляционных искажений (второго или третьего порядка). Благо, сразу вспомнил об интересной статье в тему "Методика измерения IP2 и IP3 двухтонового сигнала" и справочнике "Корис Р., Шмидт-Вальтер X. Справочник инженера-схемотехника", в котором на странице 298 приводится пример пересчета интермодуляционных искажений третьего порядка в зависимости от уровня входного сигнала.

День открытых дверей в лаборатории Keysight

   Keysight Technologies приглашает на день открытых дверей 15 и 16 сентября 2015 года.

Построение измеренных S-параметров и их сглаживание.

   Бывает так, что после проведения обмера какого-либо устройства, ты получаешь файл с S-параметрами, которые для наглядности хочется представить в виде графиков, т.е. визуализировать. Воспользоваться можно различными инструментами: использовать математические пакеты, например Mathcad; воспользоваться офисным приложением, например Gnumeric; или же использовать специальную утилиту, например Appcad. В любом случае, полезно знать и понимать как это можно сделать. Этому вопросу и посвящен топик на сайте ELECTRONIX.

Тайна разъёма анализатора сигналов...

Именно под таким интригующим названием вышла заметка в блоге компании Keysight Technologies, посвященном радиоизмерениям. Скажу честно, у меня подобный вопрос возникал не раз.

Основы измерений параметров материалов

В эти теплые летние весенние дни проходят семинары Agilent, извините, Keysight, посвященные тестированию параметров материалов и полупроводниковых приборов. Но мне показалось странным, что на диске с информационными материалами нет ничего об измерении параметров материалов (или я просто не заметил). Поэтому решил поделиться материалом, который я нашел в своем архиве "Основы измерения диэлектрических свойств материалов. Заметки по применению". Надеюсь, кому-нибудь пригодится.

Еще немного литературы по тематике измерений...

   Те книги, о которых я говорил в предыдущих постах ( "Теоретический аппарат измерений на СВЧ" и "Основы векторного анализа цепей"), я не смог найти в электронном виде. Жалко, т.к. в электронном виде они всегда могли бы быть у меня под рукой. А на бумажном носителе их с собой не потаскаешь, т.к. и места они занимают немало, да и жалко их таскать...
   Зато на просторах сети мне попалось несколько относительно свежих и интересных изданий
1. Данилин А.А., "Измерения в технике СВЧ", 2008 г.
2. Раушер К., "Основы спектрального анализа", 2006 г.
3. Афонский А.А., Дьяконов В.П., "Цифровые анализаторы спектра, сигналов и логики", 2009 г.

Руководство по подключению приборов Keysight к ПК

Еще один интересный пост в блоге Agilent Keysight Technologies.

"НПК Таир"

На выставке Экспоэлектроника 2015 удалось познакомиться и пообщаться с представителем новой для меня фирмы "НПК Таир", которая занимается "разработкой и опытным производством контрольно-измерительной аппаратуры, радиоэлектронных систем и отдельных их частей".
Для меня эта фирма интересна еще и тем, что на ее сайте в разделе публикации есть некоторое количество статей по интересной для меня тематике.

"Основы векторного анализа цепей"

Длительные поиски книги "Основы векторного анализа цепей" за авторством Михаэля Хибеля завершились успехом, за что хочется сказать огромное спасибо представителям Rohde&Schwarz Russia.
Кстати, на сайте Rohde&Schwarz Russia в разделе статьи есть, на мой взгляд, интересные материалы.

Коэффициент шума. Теория и практика измерений

На сайте журнала Компоненты и технологии много интересных статей, посвященных различным темам.

Ссылками на статьи по измерению коэффициента шума я пытаюсь восполнить пробел, связанный с отсутствием информации об измерениях на СВЧ.

1. Коэффициент шума. Теория и практика измерений. Теория.

2. Коэффициент шума. Теория и практика измерений. Практика.